Enerji Dağılımlı XRF Sistemleri

X-IŞINI FLORESANS SPEKTROMETRESİ (XRF)

X-ışını floresans spektrometresi (XRF) katı, toz ve sıvı numunelerin içerdiği elementlerin nitel ve nicel analizleri için kullanılır. Malzemedeki atomlar X ışınları ile uyarılır, bu yüksek enerji ile uyarılma sonucu yakın yörüngelerdeki elektronlar daha yüksek enerji düzeyine çıkarlar. Uyarılan elektronlar ilk enerji düzeylerine dönerken kazanmış oldukları fazla enerjiyi de X ışınları olarak geri verirler. Elementlerin verdiği bu ışımaların dalga boyu her element için farklıdır ve ayırıcı özelliğe sahiptir.

Işımanın dalga boyunun saptanması elementin cinsi (nitel) hakkında bilgi verirken, saptanan bu ışının yoğunluğunu element konsantrasyonu (nicel) hakkında bilgi vermektedir. XRF ppm seviyesinden %100’e kadar Berilyum’dan Uranyum’a kadar olan elementlerin ölçümleri yapılabilir.

RoHS uyum testi için en yaygın olarak XRF spektrometresi kullanılmaktadır. RoHS uyumlu malzemelerin yalnızca sınırlı miktarlarda ağır metal, kadmiyum, cıva, krom v.b içermesine izin verilmektedir. RoHS standartları, dünya çapında yaygınlaşmaktadır ve gün geçtikçe önem kazanmaktadır.

XRF ile yapılabilecek başlıca analizler:

• Katı ve sıvı örneklerin elementel veya bileşik olarak kalitatif, yarı-kantitatif ve kantitatif analizleri
• Kurşun ve kadmiyum testleri
• Her tür kabloların içeriğinin taranması
• Boya ve pigment testleri
• Lehim testleri