
NEX QC+
Daha zorlu uygulamalar veya ölçüm süresi kritik olduğunda, SDD ile donatılmış NEX QC+ modeli tercih edilir. Gelişmiş pik çözünürlüğü, daha hızlı ölçüm süreleri ve yüksek hassasiyet sağlar.
| Teknik | Doğrudan eksitasyonlu EDXRF |
|---|---|
| Avantaj | Performans ve uygun maliyet; katı, sıvı, toz, alaşım ve ince film analizi |
| Teknoloji | Yüksek performanslı Si-PIN dedektör (NEX QC) veya SDD (NEX QC+) |
| Nitelikler | 50 kV 4 W X-ışını tüpü, gömülü bilgisayar, dokunmatik arayüz, dahili yazıcı |
| Seçenekler | Helyum saflaştırma, otomatik numune değiştirici, taşınabilir kılıf |
| Boyutlar | 31 mm (G) x 376 mm (Y) x 432 mm (D) |
| Ağırlık | Yaklaşık 16 kg |
| Güç Gereksinimi | 10, 100 – 240 V, 1.4 A (50/60 Hz) |
Kızılcaşar Mahallesi Hürriyet Caddesi 2645.Sok. No:37 06830 Gölbaşı / ANKARA
ankara@tetratek.com.trBalmumcu Mah. Bestekar Şevki Bey Sokak No:32 34349 Balmumcu - Beşiktaş / İSTANBUL
istanbul@tetratek.com.trMansuroğlu Mah. 288/3 Sok. No:1 Selvili 2 Apt. A Blok K:1 D:2 35535 BAYRAKLI / İZMİR
izmir@tetratek.com.tr