ZSX Primus IV

Primus serisinin en yeni üyesi; Rigaku ZSX Primus IV, üstten ışımalı optic dizayna sahip dalga boylu dağılımlı X ışını fluoresan (WDXRF) spektrometre sistemidir. Her türden örneğin,berilyumdan (Be) uranyuma (U), ağır ve hafif elementlerin miktar oldukça hızlı bir şekilde gerçekleştirebilmektedir.

Yeni ZSX Rehberlik uzman sistemi XRF yazılımı

ZSX Rehber yazılımı, XRF ölçümlerinde ve veri analizinin tüm yönleriyle size yardımcı olamaktadır. Doğru analiz sadece uzmanlar tarafından mı yapılır ? Hayır, bu söz geçmişte kaldı. XRF uzmanlığını ve deneyimini bir araya getiren ZSX Rehber yazılımı, sofistike ayarları kullanırak size yardımcı olmaktadır. Operatörler sadece basitçe numuneleri, analiz bileşenleri ve standart kompozisyon hakkında temel bilgileri sisteme girerler ve pik çakışması, optimum gürültü oranı ve düzeltme parametrelerinin (pik çakışmaları dahil) tümü, kalitatif spektrumların yardımıyla sistem tarafından otomatik olarak ayarlanır. Size kalan doğru ve yüksek çözünürlüklü sonuçlar elde etmek.

Üstün güvenilirlik için ters optik özellikli olağanüstü hafif element XRF performansı

ZSX Primus IV yenilikçi ve eşsiz üstten ışıma konfigürasyona sahiptir. Numune odasının kirlenmesi ve temizliği veya numuneler arası geçiş süresini bir daha asla dert etmeyin. Üstten ışıma geometrisi, temizlik endişelerini ortadan kaldırır ve aktif kullanım zamanı arttırır. En karmaşık örnekleri analiz etme esnekliği ile üstün performans sunan ZSX Primus IV WDXRF spektrometresi, olağanüstü hafif element algılama limitlerine ulaşabilmek için, Primsu ailesinin her üyesinde olduğu gibi piyasada yer alan en ince koruma filmi yani 30 mikron’luk ultra ince Be pencere’li X-ışını tüpü sunamaktadır.

Haritalama ve çok noktalı XRF analizi

ZSX Primus IV, diğer analitik metodlar tarafından kolaylıkla elde edilemeyen analitik bakış açısı sağlayarak, örneklerin detaylı olarak incelenmesine olanak tanır. Birden fazla nokta analiz özelliği aynı zamanda homojen olmayan materyallerin analiz hatalarını ortadan kaldırmaya yardımcı olur. Homojenite ve inklüzyonları saptamak için en gelişmiş haritalama paketi ile bir araya getiren sistem, eşsiz bir performans sağlamaktadır.

EZ-scan yazılımı ile SQX temel parametreleri

EZ-analiz, kullanıcıların herhangi bilgiye sahip olmadığı, bilinmeyen örnekleri kolayca analiz etmelerini sağlar. Zaman tasarrufu sağlayan bu özellik, bir kaç basit adım ve girilmesi gereken bir örnek adı gerektirir. SQX temel parametreler yazılımı ile birlikte, mümkün olan en doğru ve hızlı XRF sonuçlarını elde edilmektedir. SQX, pik çakışmaları da dahil olmak üzere tüm matris efektleri için otomatik olarak düzeltme yeteneğine sahip ve kullanıcıya pek bir iş bırakmayan bir özelliktir. SQX ayrıca fotoelektronlar (hafif ve ultra hafif elementler), değişen atmosfer, safsızlık ve farklı numune boyutları ile ikincil uyarılma etkisini düzelteme kabiliyetine sahiptir. Untumayın!, Yüksek doğruluğa sahip sonuçlar, mükemmel programlar ve üstün teknolojiye sahip sistemler ile sağlanır.

Özellikler