SMARTLAB

SmartLab®

Günümüzde, En yüksek çözünürlüklü X ışını kırınım sistemi olan Smartlab XRD sistemine ait en önemli özellik belki de, Smartlab Rehber yazılımıdır. Bu yazılım sayesinde karmaşık XRD uygulamalarında hangi optik ataçmanı kullanmanızı bilme zorunluluğunuz ortadan kalkarak, system tarafından yönlendirilecek ve en doğru sonuçlara ulaşacaksınız. Sizin yerinize çalışan bilgili bir uzman gibi.

XRD performans için tasarlandı

Bu yeni X-ışını kırınım sistemi, tüm uygulamalara izin veren 0D, 1D ve 2D ölçüm modlarını destekleyen bir HyPix-3000 yüksek enerjili çözünürlükte 2D çok boyutlu yarı iletken dedektör ile birleştirilmiş PhotonMax yüksek akılı 9 kW dönen anot X-ışını kaynağına sahiptir Farklı uygulamalar için ayrı ayrı dedektörlerin hazırlanması ve değiştirilmesinin elverişsizliğini ortadan kaldırarak tek bir dedektörle kullanılmalıdır. HyPix-3000 dedektörü, tüm 2D desen bilgilerini kullanarak üstün niteliksel analiz sağlamak üzere işlenebilen 2D toz kırınım desenlerini elde etmek için kullanılabilir.

Sistem, içinde düzlem içi bir difraksiyon kolu bulunan yüksek çözünürlüklü θ / θ kapalı döngü gonyometre tahrik sistemi içerir. Sistemin yeni Cross-Beam-Optics (CBO) ailesi, tamamen otomatik değiştirilebilir yansıma ve iletim optiklerine (CBO-Auto) sahiptir.

Kullanılabilirlik için tasarlanmış

Bilgisayar kontrollu hizlama sistemi ile kombin edilen tam otomatik optik sistemler ve Rehber yazılımı ile birlikte, Farklı ölçüm modları arası geçişi kolaylıştırarak, donanım karmaşıklığından kaynaklanabilecek problemlerden kurtularak, araştırmalarınızın başarı ile devam ettiğinden rahatlıkla emin olabilirsiniz.

İşlevselliğin yeniden tanımlandığı XRD

Hangi numuneler ile çalışacak olursanız olun, ister ince filmler, ister nanomalzemeler, tozlar veya sıvılar… Smartlab sistemi sizin için uygun ölçüm koşullarını belirleyecek ve hata yapma ihtimalinizi tamamen ortadan kaldıracaktır.

Özellikler

• Bilgisayar kontrollü tam otomatik hizalama özelliği ile güvenilir sonuçlar
• Opsiyonel 5. Eksen kırınım kolu ile numunenin konumunu değiştirmeden yan katman ölçümleri
• Donanımı değiştirmenize gerek kalmadan odak ve parallel ışın geometrisi arası geçiş işlemi
• Küçük açılı X-ışını ölçüm method ile tanecik boyutu