TETRA Teknolojik Sistemler A.Ş.
CAMECA

NanoSIMS 50L

Yüksek Mekansal Çözünürlükte İzotop ve İz Element Analizi için SIMS Microprobu

CAMECA NanoSIMS 50L, yüksek yanal çözünürlükte SIMS analiz performansını optimize eden eşsiz bir iyon mikroprobudur. İyon gunının ve ikincil iyon ekstraksiyonunun koaksiyal optik dizaynına ve çoklu çekimle özgün bir manyetik alan kütle analizörüne dayalıdır.

Benzersiz özellikler

NanoSIMS 50L, bilinen herhangi bir enstrüman veya teknikle  tek tek elde edilebilen, aynı anda birkaç önemli performans sunar:
- Yüksek analiz mekansal çözünürlüğü (50 nanometreye kadar),
- Yüksek hassasiyet (element görüntülemede ppm),
- Yüksek Kütle Çözünürlüğü (M / dM),
- Yedi kütlenin paralel olarak kazanımı,
- Hızlı alım (DC modu, darbeli değil),
- Elektrik izolasyonlu numunelerin problemsiz analizi.

TEMSİLCİLİKLER

BİZE ULAŞIN

İletişim Formu ve harita için tıklayınız.
ANKARA0312 472 63 63

6. Cadde (1322 Cadde) No:40 06450 Öveçler ANKARA

ankara@tetratek.com.tr
İSTANBUL0212 212 55 66

Mecidiye Mah. Bestekar Şevki Bey Sokak No:32 34335 Balmumcu - Beşiktaş / İSTANBUL

istanbul@tetratek.com.tr
İZMİR0232 239 79 49

Mansuroğlu Mah. 288/3 Sok. No:1 Selvili 2 Apt. A Blok K:1 D:2 BAYRAKLI -İZMİR

izmir@tetratek.com.tr
ADANA0322 459 97 82

Reşatbey Mah. Adalet Cad. 54/6 01200 ADANA

adana@tetratek.com.tr
GRUP FİRMALARIMIZ
 
#
Tamam