NanoSIMS 50L

Yüksek Mekansal Çözünürlükte İzotop ve İz Element Analizi için SIMS Microprobu

CAMECA NanoSIMS 50L, yüksek yanal çözünürlükte SIMS analiz performansını optimize eden eşsiz bir iyon mikroprobudur. İyon gunının ve ikincil iyon ekstraksiyonunun koaksiyal optik dizaynına ve çoklu çekimle özgün bir manyetik alan kütle analizörüne dayalıdır.

Benzersiz özellikler

NanoSIMS 50L, bilinen herhangi bir enstrüman veya teknikle tek tek elde edilebilen, aynı anda birkaç önemli performans sunar:
- Yüksek analiz mekansal çözünürlüğü (50 nanometreye kadar),
- Yüksek hassasiyet (element görüntülemede ppm),
- Yüksek Kütle Çözünürlüğü (M / dM),
- Yedi kütlenin paralel olarak kazanımı,
- Hızlı alım (DC modu, darbeli değil),
- Elektrik izolasyonlu numunelerin problemsiz analizi.