Hem araştırma hem de endüstri için rutin 3D nano-analiz sağlayan Atom Probu
Atom Probe Tomografi enstrümantasyonunda ve uygulamasında 30 yıllık başarıyla kurulan CAMECA, hem araştırma hem de endüstri için rutin, yüksek performanslı 3D nano-analizi mümkün kılan, Atom Prob mikroskopu EIKOS ™ 'u tanıtmaktadır.
EIKOS, kullanım kolaylığı ile Atom Prob Tomografiye erişilebilirlik sağlar. Standart mikroskopi numune hazırlama yöntemlerini kullanarak, endüstriyel kullanım için alaşımların daha hızlı gelişimini ve araştırma uygulamaları için materyallerin anlaşılmasını sağlayan nano-ölçekli yapısal bilgiler sağlar.
EIKOS, 30 yılı aşkın süredir sergilenen çok çeşitli APT uygulamalarına hitap etmektedir. Voltaj darbeli temel EIKOS modeli, çeşitli metalurjik uygulamalar sağlar. Tam EIKOS yapılandırması, uygulama alanını yarı iletken, ince filmler ve kaplamalar haline getirir.
EIKOS platformunun temel özellikleri
• Mikro yapıların nano ölçekli karakterizasyonu ile üç boyutlu tomografi
• Yüksek verimlilikte yüksek mekansal çözünürlüklü tek atom tespiti
• Tüm elementlere ve izotoplarına eşit duyarlılık
• Nicel bileşim ölçümü
• Gerilim / voltaj ve lazer konfigürasyonları mevcuttur
• Standart numune hazırlama yöntemleri
Mecidiye Mah. Bestekar Şevki Bey Sokak No:32 34335 Balmumcu - Beşiktaş / İSTANBUL
istanbul@tetratek.com.trMansuroğlu Mah. 288/3 Sok. No:1 Selvili 2 Apt. A Blok K:1 D:2 BAYRAKLI -İZMİR
izmir@tetratek.com.tr