PHI NanoTOF — Yüksek Hassasiyetli TOF-SIMS (Zaman-Uçuşlu Sekonder İyon Kütle Spektrometresi) Sistemi

PHI NanoTOF, nanometre seviyesinde kimyasal görüntüleme ve yüzey analizi için tasarlanmış, ultra yüksek kütle çözünürlüklü bir TOF-SIMS sistemidir. Malzeme yüzeylerinin kimyasal bileşimini, moleküler yapısını ve dağılımını hassasiyetle haritalandırmak üzere optimize edilmiştir.

Temel Özellikler

Yüksek Kütle Çözünürlüğü: ≥ 15.000 (m/Δm) ile doğru kütle analizi.
Nanometre Ölçekli Görüntüleme: ≤ 100 nm mekansal çözünürlük ile yüzey ve derinlik profili analizi.
Çift Işın Teknolojisi: Birincil iyon ışını (Bi/Mn/Cs) ve gaz küme iyon kaynağı ile esnek analiz.
Geniş Kütle Aralığı: 1–10.000 m/z aralığında organik/inorganik bileşiklerin tespiti.
Gelişmiş Veri Analizi: PHI’nin özel yazılımıyla 3D kimyasal görüntüleme ve niceliksel analiz.

Uygulama Alanları

Malzeme Bilimi: Polimerler, kaplamalar ve kompozitlerin moleküler haritalandırması.
Yarı İletkenler: Katmanlı yapıların kontaminasyon ve kimyasal homojenlik analizi.
Biyoteknoloji: Hücre zarı bileşenlerinin ve biyomalzemelerin karakterizasyonu.
Farmasötikler: İlaç dağılımı ve tablet yüzeylerinin kimyasal analizi.
Adli Bilimler: Mikro izlerin kimyasal tanımlanması.

Teknik Özellikler

Birincil İyon Kaynakları: Bi³⁺, Mn⁺, Cs⁺ ve gaz küme iyonları (Ar, CO₂).
Analizör: Yansıtıcı zaman-uçuşlu (Reflectron TOF) tasarım.
Vakum Sistemi: Temel vakum < 5×10⁻⁹ Torr.
Örnek Boyutu: 200 mm × 200 mm’ye kadar örnekler.
Detektör: Mikrokanal plaka (MCP) ile yüksek hassasiyetli iyon tespiti.

Neden PHI NanoTOF?

Üstün Performans: Organik/inorganik hibrit malzemeler için optimize edilmiş analiz.
Kullanım Kolaylığı: Otomatik hizalama ve örnek yönetimi.
Düşük Sinyal Kaybı: Yüksek iletimli optik sistemle verimli veri toplama.
Global Destek: PHI’nin uzman teknik ekibiyle 7/24 servis garantisi.