
PHI 710, nanometre seviyesinde yüzey kimyası ve elementel analiz için tasarlanmış, ileri düzey Auger Elektron Spektroskopisi (AES) sistemidir. Malzemelerin yüzey kompozisyonunu, kimyasal bağ durumunu ve mikroyapısal özelliklerini yüksek hassasiyetle karakterize eder.
Yüksek Mekansal Çözünürlük: ≤ 10 nm çözünürlük ile nano ölçekli analiz.
Çoklu Analiz Modları: AES, SEM (Taramalı Elektron Mikroskobu) ve EDX (Enerji Dağılımı X-Işını Spektroskopisi) entegrasyonu.
Derinlik Profilleme: İyon tabancası ile katmanlı yapıların derinlik bazlı analizi.
Geniş Enerji Aralığı: 0–10 keV aralığında elementel ve kimyasal haritalandırma.
Otomatik Hizalama: PHI SmartAlign™ yazılımı ile hassas ışın odaklama.
Malzeme Bilimi: Metal alaşımlar, kaplamalar ve ince filmlerin yüzey kimyası.
Yarı İletken Analizi: Entegre devrelerde kontaminasyon ve kırılma analizi.
Korozyon Araştırmaları: Yüzey oksidasyonu ve korozyon mekanizmalarının incelenmesi.
Nanoteknoloji: Nanoparçacıkların ve nano kaplamaların elementel dağılımı.
Kalite Kontrol: Üretim hatlarında yüzey safsızlıklarının tespiti.
Elektron Kaynağı: Schottky alan emisyonlu elektron tabancası.
Analizör: Küresel silindirik analizör (CMA) ile yüksek enerji çözünürlüğü.
Vakum Sistemi: Temel basınç < 5×10⁻¹⁰ Torr.
Örnek Boyutu: 150 mm çapa kadar örnekler.
Detektörler: Çok kanallı dedektör ile hızlı veri toplama.
Üstün Hassasiyet: Düşük konsantrasyonlu elementlerin (%0.1 seviyesi) tespiti.
Endüstriyel Dayanıklılık: Ağır kullanım için optimize edilmiş tasarım.
Entegre Görüntüleme: SEM ve AES verilerinin eş zamanlı analizi.
Global Servis Ağı: PHI’nin uzman ekipleriyle teknik destek.
Kızılcaşar Mahallesi Hürriyet Caddesi 2645.Sok. No:37 06830 Gölbaşı / ANKARA
ankara@tetratek.com.trBalmumcu Mah. Bestekar Şevki Bey Sokak No:32 34349 Balmumcu - Beşiktaş / İSTANBUL
istanbul@tetratek.com.trMansuroğlu Mah. 288/3 Sok. No:1 Selvili 2 Apt. A Blok K:1 D:2 35535 BAYRAKLI / İZMİR
izmir@tetratek.com.tr