LEAP 5000 XS

Yarıiletkenler, Elektronik Cihazlar ve Nanomanyetikler için Yüksek Performanslı 3D Atom Probu

LEAP 5000 XSTM, atom tanımlama ve doğru mekansal konumlandırma ile basit ve kompleks yapıların nano-ölçekli yüzey, hacim ve ara yüzey malzeme analizini sağlayan yüksek performanslı atom prob mikroskopudur.
Sistem, alan evaporasyon ilkesiyle çalışır, böylece numuneye uygulanan kuvvetli bir elektrik alanı, atomların iyonizasyon yoluyla uzaklaştırılmasına neden olur. Atom ayırma işlemi, numuneye uygulanan voltaj veya lazer darbesi yoluyla tetiklenir.

LEAP 5000 XS aşağıdaki temel özellikleri sunar:

En hızlı veri toplama
Yerel elektrot ve mikrotip uyumluluğu
Değişken uçuş yolu